作者：丁晓鸿 樊应县 施威 曹华春 高永毅引出结构引出电极内电极电感器可靠性
摘要：叠层片式电感器（MLCI）其引出结构在热应力冲击下，可能会形成开路，降低了MLCI的可靠性，进而影响到电子线路的整体功能。针对实际应用过程中一例叠层片式电感器（型号CH1608H22N）的失效，采用X射线检查、金相检查等分析方法对电感器的失效机理进行了分析。结果表明引出电极与内电极结合部位的热致失效导致了开路，进而研究了引出结构对MLCI可靠性的影响，设计出了一种新的圆弧型引出结构，通过实验验证该结构的耐流特性比直角型引出结构的提高了50％，产品可靠性得以改善。
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