作者：杨丹; 恩云飞; 黄云电子技术贮存可靠性综述长期贮存试验极限应力试验加速贮存寿命试验
摘要：综述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,分析了元器件贮存失效模式及原因,表明减少元器件自身缺陷、改善固有可靠性是提高其贮存可靠性的关键.并从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析.
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
《电子元件与材料》（CN：51-1241/TN）是一本有较高学术价值的大型月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子元件与材料》是国内电子元器件领域历史最悠久的期刊之一，坚持"集前瞻性、创新性与实用性为一体，为科技进步和行业发展服务"的办刊理念，为行业技术的传播与交流发挥了重要的桥梁和纽带作用。
部级期刊
人气 371743 评论 74
人气 308155 评论 62
人气 269829 评论 66
统计源期刊
人气 156550 评论 73
