作者：解同同; 李天阳norflaship核存储器控制器可测试性
摘要：当前,嵌入式Flash广泛应用于嵌入式系统领域,便于系统进行软件在线更新和系统维护。嵌入式NOR Flash可以＂嵌入＂在芯片中作为高速缓存,对于提升芯片整体性能作用明显。传统的嵌入式NOR Flash不具备测试接口,在芯片出现工作异常时不便于对整个芯片进行故障诊断。设计并实现了一种具有片上可测试功能的嵌入式NOR Flash控制器IP。控制器主要分为控制模块与测试模块两个部分,分别对两个模块进行分析设计。经过仿真验证,控制器可以实现对NOR Flash的正常操作与片外测试功能,达到了设计目标。
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