作者：张腾 于荣 朱静 詹倩 朱英豪多铁性高分辨电子显微术铁电畴菱方相
摘要：外延BiFeO3薄膜中丰富的结构与特殊的性能一直是近年来研究的热点。显微结构的研究不仅可以帮助人们进一步认识BiFeO3的结构信息,还可以帮助人们深入了解BiFeO3结构与性能间的关系,开拓新的应用领域。本文利用球差校正高分辨透射电子显微镜对外延在LaAlO3过渡层/Si基底上的BiFeO3薄膜进行研究。通过原子尺度的定量分析,在应力状态复杂区域观察到类菱方相、应力释放后恢复的菱方相以及拉应力状态下c/a值小于1的类菱方相,并在该区域观察到109°铁电畴,且畴间存在4.4°的畸变夹角。还观察到比较大的c/a比。
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