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用于HREM分析的位错结构模型

作者:陈一; 胡岗; 郑国祥; 严学俭; 吴晓京结构模型hrem位错高分辨电子显微术

摘要:本文推荐建立一种用于高分辨电子显微术(HREM)分析的位错结构模型,希望对该问题的解决有所帮助。

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电子显微学报

《电子显微学报》(CN:11-2295/TN)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

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