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T3铜的电子背散射衍射(EBSD)花样分析

作者:周善民; 陈同彩; 张武电子背散射衍射衍射花样t3紫铜crystal晶体材料显微特征任意形状矩形区域

摘要:材料的性能主要由显微特征决定,如:成分,织构等.本文采用INCA Crystal电子背散射仪,对T3紫铜晶体材料进行了衍射花样分析,从试样中选定矩形区域或任意形状的区域进行面扫描,获得极图、反极图、欧拉角分布图、晶粒尺寸、重位点阵晶界的分布和显示、取向和位向差数据.织构自动识别,并标定出不同织构类型所占的百分比等信息.

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电子显微学报

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