作者:姚立; 田地; 王微特征x射线电子探针分析谱线识别谱线分离法
摘要:特征X射线是电子探针分析的主要信息,根据特征频率(或波长)就可以识别样品中存在哪种元素,这是电子探针定性分析的基本原理.在定性分析的释谱过程中要注意谱线的判别,峰的重叠和X射线的形态变化所引起的峰位的变化.本文主要在EMX-SM7型电子探针上进行谱线分峰研究,鉴别干扰峰,提高分析的准确性和精度.
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
《电子显微学报》(CN:11-2295/TN)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
部级期刊
人气 371074 评论 74
人气 308102 评论 62
人气 269637 评论 66
省级期刊
人气 238529 评论 36