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测试诊断与保障信息化专题研讨会圆满闭幕

军工单位测试诊断航天测控专家团队技术开发公司产品展示区系统演示通用测试日至寿命周期

摘要:<正>由北京航天测控技术开发公司主办,《电子设计应用》杂志社协办的全国巡演活动——"测试诊断与保障信息化"专题研讨会于2009年11月17日至20日分别在上海和成都成功举行。在该研讨会上,马好东副总经理率领北京航天测控公司的技术专家团队与来自航空、航天、兵器、船舶、电子等军工单位以及民用电子、交通、汽车、通信、石油/化工

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电子设计应用

《电子设计应用》(CN:11-4916/TN)是一本有较高学术价值的月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

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