作者：EtienneCaclin; BertrandDeleris; Volker...半导体芯片vcsobc评估单片系统芯片
摘要：当前,设计验证已经成为半导体芯片设计过程所面临的主要难题之一.如何确认芯片能够在相关应用中正确运行呢?除了要面对需要写出尽可能多的测试来验证芯片的各方面功能的挑战以外,下列问题也变得日益重要:如何测定这些测试的质量呢?测试包到底覆盖了多大范围的芯片功能呢?对于这些问题,传统的解决方法是应用代码覆盖率分析工具.
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