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PXI半导体测试模块具有测试向量控制卡

pxi接口测试模块测试向量控制卡半导体逻辑信号pxi平台

摘要:PXI联盟执行成员(Executive Member)致茂电子推出的PXI平台半导体逻辑信号测试模块使用PXI接口的标准机箱,提供100MHz可编程数字信号测试模块(Model 36010),该模块由支持众多循序控制指令的测试向量控制卡,以及逻辑脚位信号卡所组成,用以发出待测品所需的电信号,并接受待测品因此信号后所响应的电信号,而作出产品测试结果的判断。每一逻辑脚位信号卡有8个I/O通道,且采用Per-pin架构设计,

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电子设计技术

《电子设计技术》是一本有较高学术价值的月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子设计技术》办刊宗旨:成为中国电子设计业主导刊物,读者:电子设计业工程师及技术管理人员。

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