作者：姚丽婷 谈恩民线性反馈移位寄存器低功耗平均功耗峰值功耗
摘要：针对内建自测试（Built—In Self-Test，BIST）技术的伪随机测试生成具有测试时间过长，测试功耗过高的缺点，严重影响测试效率等问题。提出一种低功耗测试生成方案，该方案是基于线性反馈移位寄存器（LFSR）设计的一种低功耗测试序列生成结构——LP-TPG（Low Power Test Pattern Generator），由于CMOS电路的测试功耗主要由电路节点的翻转引起．所以对LFSR结构进行改进，在相邻向量间插入向量，这样在保证原序列随机特性的情况下，减少被测电路输入端的跳变．以ISCAS’85基准电路作为验证对象，组合电路并发故障仿真工具fsim，可得到平均功耗和峰值功耗的降低．从而达到降低功耗的效果。验证结果表明，该设计在保证故障覆盖率的同时，有效地降低了测试功耗，缩短了测试序列的长度．具有一定的实用性。
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