作者：范春帅; 张扬; 彭丽君功率mosfet器件电参数测试寄生电容栅极igss延迟时间测试程序测试值
摘要：在进行大功率MOSFET器件的IGSS参数测试时,时常会出现测试值随着采样延迟时间的增加而减小的情况,该种情况极易造成合格器件的误判。本文通过对MOSFET结构的分析,从原理上解释了上述现象的成因,并且提出了一种可以有效避免,由于栅极寄生电容干扰导致测试结果不准确的测试程序编写方法。
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