作者:强苗电子元器件失效模型试验方法可靠性元器件质量失效机理产品质量试验方案
摘要:电子元器件质量决定其工作可靠性,根据电子元器件失效机理判断其失效模型,可以准确判断电子元器件缺陷和故障问题,推动产品质量的提升。基于此,本文首先介绍了电子元器件的种类,其次对失效模型进行了简单的介绍,最后根据电子元器件失效模型研究了可靠性试验方法,需要综合分析电子元器件工作场景和内容,设计科学的试验方案。
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
《电子世界》(CN:11-2086/TN)是一本有较高学术价值的大型半月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子世界》全方位推崇E时代大众电子科学意识,传播电子与信息领域的新知识、新技术,发表最新科研成果和展示技术进展状况,始终注重扶持学术新人,尤其关注广大青年科技工作者,优先发表理工科青年教师和研究生中的优秀学术稿件。
部级期刊
人气 307711 评论 62
人气 268925 评论 66
统计源期刊
人气 155888 评论 73
人气 150032 评论 66