作者：刘铁磊; 刘志昂; 高志刚; 常晶; 汪柯宇液晶显示面板lcd统计分析工具质量改善mura方差分析试验次数
摘要：LCD行业Mura类不良是普遍存在的问题,部分新产品量产初期发生率维持在2.5%以上。本文主要阐述B司质量改善小组,在明确Mura类不良产生因素的基础上,运用0.618法、均分法、方差分析等常用统计分析工具,通过合理安排试验,得出最佳量产条件,并最终将发生率控制在0.5%以下。旨在为工厂不良改善活动提出合理化的试验思路,从而有效减少试验次数,降低生产成本。总结工厂实际不良改善经验,以上方法在LCD工厂不良改善活动中基本适用。
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