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数字芯片中时钟产生模块的设计与验证

作者:杨斌; 史亚维数字芯片功能验证时钟产生设计结构模块代码覆盖率方法学c语言

摘要:随着今年美国对中兴芯片禁止事件的发展,国人对芯片越来越重视,然而时钟产生模块(ClockGenerationUnit,CGU)是数字芯片不可缺少的-部分.因此,本文给出了数字芯片中时钟产生模块的基本设计结构,提出了基于C语言的直接功能验证和基于UVM方法学的随机功能验证结合的有效方法,达到了功能覆盖率和代码覆盖率的要求,使得设计更符合功能要求.

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电子世界

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