作者：杨超; 张金凤; 马成英nandflash坏块管理测试设计使用探讨
摘要：本文首先介绍了NAND FLASH的基本特征,指出了NAND FLASH和普通存储器在测试和使用中的异同,明确了NAND FLASH存储阵列中允许存在坏块的特征。针对NAND FLASH的特点进行了测试设计,实践证明取得了良好的效果;并对NAND FLASH在使用过程中的坏块管理进行了探讨,提出了两种坏块管理办法并进行了对比,对测试者和使用者具有借鉴意义。
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