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伪双能X射线透射系统矫正厚度影响的物质鉴别方法

作者:徐明刚; 鲍旭东x射线透视厚度影响物质识别伪双能

摘要:x射线透视技术已被证实是一种非常有效的安全检查方法.基于这种技术的伪双能x射线透射系统广泛应用于车站、机场等重要场所.伪双能系统的射线源产生的是连续能谱的X射线,因此基于传统双能透射模型的物质鉴别方法由于受到物体的厚度影响而导致准确性的降低.在根据高低能信号的对数比值的基础上,引入X射线的衰减因素到物质属性特征空间中,研究出矫正厚度影响的鉴别方法.实验结果证明在高维特征空间中的物质鉴别方法能够有效提高鉴别结果的准确性.

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电子器件

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