作者：崔国庆; 黄庆安; 王建华少子寿命pin二极管连续性方程
摘要：少子寿命是PIN二极管的重要参数,对二极管的正向压降和开关时间有很大的影响.阶越反向恢复法是常用的测试少子寿命方法之一.本文通过分析电荷控制方程得到了更精确的表达式,并用这种方法计算了储存电荷法的公式.表达式用MEDICI器件模拟软件进行了验证.结果表明与目前常用的方法相比,本文的方法具有更好的精确性,而且简单易行,适合实际应用.
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《电子器件》（CN：32-1416/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子器件》主要刊登真空电子学、微波电子学、光电子学、薄膜电子学、电子显示技术、激光与红外技术、半导体物理与器件、集成电路与微电子技术、光纤技术、真空物理与技术、表面分析技术、传感技术、电子材料与元器件、电光源与照明技术、电子技术应用，并涉及电子科学领域里的最新研究动态。
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