作者：崔国庆; 王建华; 黄庆安; 秦明pin二极管少子寿命开关时间连续性方程
摘要：少子寿命是PIN二极管的重要参数.对二极管的正向导通压降和开关时间有重要影响.本文介绍了常用的测量低掺杂区少子寿命的方法,包括阶越反向恢复法、线性反向恢复法、储存电荷法、开路电压衰减法(OCVD)和射频测试法,并指出了各种方法的优点和不足.重点介绍了阶越反向恢复法和线性反向恢复法,对实际的测试过程具有一定的指导作用.
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《电子器件》（CN：32-1416/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子器件》主要刊登真空电子学、微波电子学、光电子学、薄膜电子学、电子显示技术、激光与红外技术、半导体物理与器件、集成电路与微电子技术、光纤技术、真空物理与技术、表面分析技术、传感技术、电子材料与元器件、电光源与照明技术、电子技术应用，并涉及电子科学领域里的最新研究动态。
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