作者：崔浩; 李斌成; 肖石磊; 王静; 王亚非; 高...半导体激光高反膜测量光反馈光腔衰荡偏振光反射率
摘要：提出采用光反馈光腔衰荡技术同时测量高反膜的S（垂直于入射平面）和P（在入射平面内）偏振反射率的方法,通过将一束具有一定偏振比、光强方波调制的偏振光入射到衰荡腔中,在调制方波下降沿记录从衰荡腔腔镜透射的光腔衰荡信号,通过双指数拟合得到S、P相应的衰荡时间,从而计算得到高反膜S、P偏振光的反射率.与采用纯S（P）光测量得到的偏振反射率相比,S和P偏振反射率偏差分别仅为1 ppm和15 ppm,证明了同时测量结果的正确性.与传统光腔衰荡测量高反膜偏振反射率方法相比,该测量方法装置简单,操作方便,测量更快速.
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