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激光干扰下红外成像系统性能预测研究

作者:张方芳 阮江洋 王晓蕊红外成像系统nvthermip模型性能预测激光干扰

摘要:激光干扰是抑制红外成像系统现场性能的有效手段,为实现对激光干扰下红外成像系统性能预测,文中以激光干扰红外成像探测器的作用机理为基础,通过对红外成像系统吸收的激光能量与对比度增强之间的关系进行分析,得到干扰激光的能量与对比度增强之间的关系,进而修正红外成像系统的对比度阈值函数;并结合NVTherm IP性能模型实现激光干扰对系统性能的预测,给出了仿真结果,为红外成像系统的性能预测评估和理论模型的继续完善提供依据。

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电子科技

《电子科技》(CN:61-1291/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子科技》主要刊登电子科学技术领域中的新发明、新技术、新设计、新工艺、新材料、新产品以及实用技术方面的技术论文、综述等稿件。

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