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一种利用任意窗的Beamlet图像线特征提取

作者:邵方 杨柳青beamlet变换任意形状窗特征提取

摘要:Beamlet变换是一种新的多尺度几何分析工具。文中在简要介绍Beamlet变换的基础上,提出了一种线特征提取方法。首先用任意形状窗平滑噪声,进一步融合为一幅二值图像,最后再利用Beamlet提取图像的线特征。它不仅可以提取直线特征,而且还能有效地提取曲线特征。实验结果表明在信躁比很低的情况下,用该方法也能得到满意的效果。

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电子科技

《电子科技》(CN:61-1291/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子科技》主要刊登电子科学技术领域中的新发明、新技术、新设计、新工艺、新材料、新产品以及实用技术方面的技术论文、综述等稿件。

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