作者：璩柏青; 文建明; 李增忠光线跟踪像素相关性自适应反走样算法采样理论图形边缘
摘要：文中从采样理论出发,对光线跟踪中走样现象的原因及其反走样原理和方法进行了分析,并根据像素相关性,提出了一种自适应反走样算法.此算法具有简单、快速的优点,能有效地消除图形边缘的走样.
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
《电子科技》（CN：61-1291/TN）是一本有较高学术价值的大型月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子科技》主要刊登电子科学技术领域中的新发明、新技术、新设计、新工艺、新材料、新产品以及实用技术方面的技术论文、综述等稿件。
部级期刊
人气 1073447 评论 53
省级期刊
人气 845807 评论 70
人气 806266 评论 68
人气 753007 评论 72
