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组合压缩在存储测试系统中的应用

作者:裴东兴 任武林存储测试系统fpga组合压缩vhdl

摘要:在某些特殊的测试环境中,存储测试系统中既要求大容量数据存储又要求微体积。为解决这一矛盾,在研究了游程压缩和LZW两种算法的基础上,提出了以FPGA为核心实现两种算法的无损组合压缩,利用FPGA芯片内的RAM来建立字典,用VHDL语言和状态机实现该压缩算法。仿真和综合验证表明,通过FPGA实现该组合算法,压缩效果显著,压缩性能与压缩速度均满足系统要求。

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电子技术应用

《电子技术应用》(CN:11-2305/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

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