作者:董玉花; 陈佳单粒子效应应力分析潜在故障
摘要:本文对敏感器件上的单粒子效应进行试验的条件、试验装置和测试仪表要求、试验程序、失效现象及判据、试验过程中的监测及记录要求进行了阐述。主要通过分析试验结果,以得到大气中子单粒子效应对敏感器件的危害程度,进而分析大气中子单粒子效应在电路设计过程中对产品可靠性的影响,从而能够对中子单粒子效应进行有效防护。
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
《电子技术与软件工程》(CN:10-1108/TP)是一本有较高学术价值的大型半月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
北大期刊、统计源期刊
人气 543500 评论 58
部级期刊
人气 372081 评论 74
省级期刊
人气 366851 评论 69
人气 308376 评论 62