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小尺寸高容量MLCC切割侧裂问题的解决方法

作者:薛赵茹; 邓丽云; 曾昭鹏小尺寸高容量mlcc切割侧裂配方层压

摘要:为了解决小尺寸高容量MLCC的切割侧裂问题,深入分析了侧裂原因,优化了瓷浆配方、内电极印刷厚度以及层压、切割工艺。结果发现:瓷浆中合适的黏合剂和增塑剂添加量可以提高介质膜片的黏接性,适当减小内电极印刷厚度可以减小电容坯块的厚度差,优化层压工艺可以有效提高电容坯块的致密性,优化切割工艺可以减小芯片所受的应力。通过上述措施解决了切割侧裂问题。

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电子工艺技术

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