作者：唐丽; 邹映涛; 唐昱; 陆建随机数随机数采集随机数检测v93000
摘要：随机数器件是一种广泛应用于信息安全领域的重要半导体器件,随机数测试是判定随机数器件质量好坏的重要手段,随机数测试通常是基于板级的随机数采集和检测。本文实现了一种基于V93000测试仪的随机数采集检测方法,文中对ATE的随机数采集检测原理和具体方法进行了介绍,同时还提供了ATE随机数采集检测实例,进一步介绍该了方法的实现过程。
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《电子测试》（CN：11-3927/TN）是一本有较高学术价值的大型半月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子测试》如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注，而为他们搭建沟通行业信息的平台，开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的优秀使命。
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