作者：唐昱; 邹映涛; 刘相伟; 唐丽眼图测试高速信号soc芯片
摘要：眼图测试是高速信号测试的一种重要方式,能有效的衡量信号质量,通常应用于串行数字信号或者高速信号的测试和验证场合。目前业界普遍采用示波器结合专用探头来进行眼图测试,不适用于芯片批量筛选,本文基于Advantest93000 ATE,介绍了如何在一款SOC芯片筛选过程中实现高速信号的眼图测试。
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《电子测试》（CN：11-3927/TN）是一本有较高学术价值的大型半月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子测试》如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注，而为他们搭建沟通行业信息的平台，开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的优秀使命。
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