HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

片式元器件自动测试系统的设计

作者:于海生; 邵松; 马传翔片式元器件自动测试系统设计

摘要:在科学技术快速发展的背景下,逐渐提升了电子工艺水平,从而使电器元件的体积越来越小,形成了片式元件器,并被广泛的应用到各种类型电子产品的生产当中。而片式元器件使用之前,需要利用自动测试系统对其进行检测,以确保其性能符合要求。基于此,本文以片式元器件自动测试系统为主要研究对象,通过对系统组成的简单介绍,进而深入谭饶了系统控制的设计,并以此为基础,对测试结果展开了分析。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

电子测试

《电子测试》(CN:11-3927/TN)是一本有较高学术价值的大型半月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子测试》如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注,而为他们搭建沟通行业信息的平台,开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的优秀使命。

杂志详情