nor闪存90nm工艺子系统st随机存取手机应用意法半导体psram工艺开发执行速度
摘要：意法半导体（ST）日前推出了新一代手机专用的NOR闪存子系统。新产品在一个装内整合了256Mbit和512Mbit单片NOR闪存及伪静态随机存取存储品（PSRAM）或小功率同步动态随机存取存储品（LPSDRAM）。它们专为第三代手机应用设计，采用90nm工艺开发制造，代码执行速度更快、价格更低廉。
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《电子测试》（CN：11-3927/TN）是一本有较高学术价值的大型半月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子测试》如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注，而为他们搭建沟通行业信息的平台，开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的优秀使命。
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