半导体特性分析系统测量方案脉冲式吉时利器件特性仪器设备测量功能信号发生200型
摘要：吉时利（Keithley）仪器公司日前宣布在4200型半导体特性分析系统中新增脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲Ⅰ—Ⅴ）子系统更便于进行高介电（High—k）材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究，测量更加准确，产品投入市场更快。这是第一款商用化的集成了精确、可重复的脉冲和DC测量于一体的解决方案，而且使用非常方便。
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