作者：孙俊杰串行数据操作速度主板串行总线tds带宽c系列sige技术芯片信号响应
摘要：现代测试领域中,随着芯片和主板操作速度及密度不断增加,来自串行数据实施的挑战越来越明显,客户需要应对串行数据应用要求苛刻的商性能示波器,以满足更快的信号响应速度、处理更高的复杂性.泰克基于SiGe技术的TDS6000C系列就是满足串行总线苛刻要求的数字存储示波器方案.
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《电子测试》（CN：11-3927/TN）是一本有较高学术价值的大型半月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子测试》如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注，而为他们搭建沟通行业信息的平台，开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的优秀使命。
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