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引线式轴向塑封二极管可靠性研究与应用

作者:朱平安; 项永金; 张秀凤二极管机械应力钉头晶圆可靠性

摘要:结合应用中引线式轴向塑封二极管出现漏电及击穿失效问题,对引线式轴向塑封二极管失效原因及封装结构进行深入剖析,经过对大量失效引线式轴向塑封二极管深入分析确定失效主要原因为引线式轴向塑封二极管为单钉头引线、大晶圆结构,本身抗机械应力能力差,引线、二极管本体在加工的过程中受机械应力的作用,二极管晶圆直接受到外力冲击产生裂纹,呈现正向压降不良及反向耐压衰降,在后续的通电过程中失效进一步加深,最终击穿失效。经过从各方面进行论证对比分析,双钉头引线、小晶圆结构有很大的优势,开发新型双钉头引线、小晶圆结构提高轴向塑封二极管抗机械应力能力,有效解决引线式轴向塑封二极管售后及过程机械应力失效问题。

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