作者：Robert Ashton Marty Johnson Scott Wardcdm测试ic
摘要：本文将探讨小器件CDM测试的难处,并提出一些已经尝试用于使用场致CDM测试方法改善小器件可测试性的构想。
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
《电子产品世界》（CN：11-3374/TN）是一本有较高学术价值的大型月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
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