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面向纳米IC测试的ATE

作者:崔德勋销售美元量产份额ateic测试世界集成电路测试st公司自动测试设备

摘要:2004年,90纳米制造工艺进入量产阶段.纳米器件的生产对集成电路自动测试设备(ATE)的发展产生了很大的影响.

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电子产品世界

《电子产品世界》(CN:11-3374/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

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