作者：马跃进; 汪凯蔚; 沈峥嵘; 黄永华紧缩系统可靠性试验方案复杂电子系统
摘要：讨论了一类组成复杂、组件之间独立工作、组件的失效率不随系统规模变化的大型系统的紧缩可靠性试验解决方案,通过严格的数学推导,证明了该紧缩系统试验方案与全系统开展试验是完全等效的。该方案弥补了基于可靠性分配的可靠性试验方案的不足,给出了紧缩系统的紧缩原则,实现了通过紧缩系统试验直接评价全系统可靠性水平的目标,具有一定的工程应用价值。
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《电子产品可靠性与环境试验》（CN：44-1412/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子产品可靠性与环境试验》曾获广东省优秀科技期刊、《CAJ-CD规范》执行优秀奖、2001——2002年度信息产业部电子科技期刊“编辑质量奖”。读者主要有企业和技术人员。
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