作者：袁保玉; 侯旎璐; 李进智能电表电压检测芯片失效分析外观检查电参数测试
摘要：近年来,随着智能电表的广泛使用,其质量和可靠性问题受到了人们越来越多的关注。但是,由于各种原因,产品投入市场后仍会出现各种失效现象。因此,对某智能电表的电压检测芯片的失效现象进行了分析,通过外观检查、电参数测试和X-射线测试等手段找到了该芯片的失效原因,并针对发现的问题提出了相应的改进意见。
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《电子产品可靠性与环境试验》（CN：44-1412/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子产品可靠性与环境试验》曾获广东省优秀科技期刊、《CAJ-CD规范》执行优秀奖、2001——2002年度信息产业部电子科技期刊“编辑质量奖”。读者主要有企业和技术人员。
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