作者：晋李华; 刘中华高加速寿命试验抽样要求工作极限破坏极限试验过程
摘要：微波组件产品被广泛地应用于通信和导航等领域,其可靠性的高低是影响电子装备可靠性的重要因素。高加速寿命试验能够在产品开发的早期识别出产品的设计缺陷和薄弱环节,从而改善产品的可靠性。因此,对微波组件产品的高加速寿命试验方法进行了详细的介绍,对于其高加速寿命试验的正确开展具有一定的指导意义。
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《电子产品可靠性与环境试验》（CN：44-1412/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子产品可靠性与环境试验》曾获广东省优秀科技期刊、《CAJ-CD规范》执行优秀奖、2001——2002年度信息产业部电子科技期刊“编辑质量奖”。读者主要有企业和技术人员。
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