作者：凌宗欣 黄菊芹微波组件低气压试验试验方法依据密封检测
摘要：以微波组件产品为例,论述了低气压环境对产品性能的影响,对比分析了常用的低气压试验方法的依据及不同点,提出了对密封要求比较高的、适用于航空航天作业环境的产品,在低气压环境试验之后应进行密封检测的必要性,为微波组件产品低气压试验的标准化工作的提升提供了参考.
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《电子产品可靠性与环境试验》（CN：44-1412/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子产品可靠性与环境试验》曾获广东省优秀科技期刊、《CAJ-CD规范》执行优秀奖、2001——2002年度信息产业部电子科技期刊“编辑质量奖”。读者主要有企业和技术人员。
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