作者：沈峥嵘 时钟外场数据可靠性评估贮存寿命
摘要：许多大型的复杂设备，尤其像导弹、大型显控装置、舰载大型相控阵雷达等装备，其系统复杂、成本昂贵、可靠性要求高以及生产量少，难以依靠专门的可靠性鉴定试验来评价其可靠性水平。总结了目前工程上常见的3类外场数据分析和可靠性评估问题。对于齐次泊松过程、非齐次增长过程和贮存寿命数据的可靠性评估方法在数学上给出了详尽的证明；对于数据来源复杂的贮存寿命数据分析问题，给出了一个算例，为读者应用提供参考。
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《电子产品可靠性与环境试验》（CN：44-1412/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子产品可靠性与环境试验》曾获广东省优秀科技期刊、《CAJ-CD规范》执行优秀奖、2001——2002年度信息产业部电子科技期刊“编辑质量奖”。读者主要有企业和技术人员。
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