作者：王宇翔电路污染电子设备电离作用热解作用还原
摘要：通过对电子设备生产、操作过程中的直接污染及贮存环境效应所带来的间接污染等情况进行分析,探讨了电子设备长期贮存所造成的失效机理;并在此基础上,提出了降低电子设备电路污染影响的若干措施,对电子设备设计、生产和使用具有重要的参考价值。
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《电子产品可靠性与环境试验》（CN：44-1412/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子产品可靠性与环境试验》曾获广东省优秀科技期刊、《CAJ-CD规范》执行优秀奖、2001——2002年度信息产业部电子科技期刊“编辑质量奖”。读者主要有企业和技术人员。
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