作者：田瑞利 许良军 王东尘土污染尘土进入振动非线性回归高斯拟合
摘要：尘土污染是造成手机机电元件电接触故障的主要原因之一。尘土进入手机是影响手机可靠性的前提条件,对于手机类接口较小的设备,尘土并不容易直接进入,振动和接口尺寸结构是影响此类设备尘土进入的主要因素。主要研究了尘土量与振动的关系,通过振动试验得到尘土的进入量随时间的增加先上升后下降,即尘土的进入量随着时间的增加先增多后减少,进而对结果进行多元非线性回归拟合,得出手机接口内部尘土量与振动的关系可以用二元高斯函数来表征的结论。
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《电子产品可靠性与环境试验》（CN：44-1412/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子产品可靠性与环境试验》曾获广东省优秀科技期刊、《CAJ-CD规范》执行优秀奖、2001——2002年度信息产业部电子科技期刊“编辑质量奖”。读者主要有企业和技术人员。
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