作者：田霆; 刘次华威布尔分布形状参数定数截尾置信下限
摘要：为了求得双参数Weibull分布的形状参数m的单侧置信下限,通过构造统计量T1（m）=V/S1＋V,推导出其分布与参数m、η无关,且其分位点计算简便。由此可得参数m的置信下限,且证明其为无偏。并通过大量的Monte-Carlo数值模拟试验证实了所给方法的可行性。
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《电子产品可靠性与环境试验》（CN：44-1412/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子产品可靠性与环境试验》曾获广东省优秀科技期刊、《CAJ-CD规范》执行优秀奖、2001——2002年度信息产业部电子科技期刊“编辑质量奖”。读者主要有企业和技术人员。
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