作者：叶海福; 姚永和; 于成龙高压脉冲电容器电容量贮存环境容量源移
摘要：针对不同贮存环境对高压脉冲电窖器电窖量瀑移的影响进行了长期对比实验研究。采用同一批次同一型号高压脉冲电容器，随机抽取组合成实验对比组。通过观测，发现该型号高压脉冲电容器电容量的漂移与贮存环境温度的关系密切；与自然光照的关系并不明显；在同样的贮存环境下，与未加任何保护的实验对比组相比较。使用硅胶灌注的实验对比组电容量的漂移速度明显平缓，特别在贮存环境温度较低时，硅胶灌注对高压脉冲电容器电容量的漂移有明显的减缓作用。
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《电子产品可靠性与环境试验》（CN：44-1412/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子产品可靠性与环境试验》曾获广东省优秀科技期刊、《CAJ-CD规范》执行优秀奖、2001——2002年度信息产业部电子科技期刊“编辑质量奖”。读者主要有企业和技术人员。
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