衡量标准新版标准qip质量vsia知识产权合作开发ip内核测试版本
摘要：VSIA日前了新版本的质量知识产权（QIP）衡量标准。VSIA表示：QIP Metric 2．0由VSIA和无晶圆厂半导体协会（FSA）会员合作开发，用于衡量半导体IP内核的质量，以增强集成效果。测试版本预计将在后3～6个月，向业内免费提供新标准。
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《电子产品可靠性与环境试验》（CN：44-1412/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子产品可靠性与环境试验》曾获广东省优秀科技期刊、《CAJ-CD规范》执行优秀奖、2001——2002年度信息产业部电子科技期刊“编辑质量奖”。读者主要有企业和技术人员。
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