作者：吴永俊; 詹前贤液晶显示器件加速环境应力试验电极腐蚀污染
摘要：液晶显示器件(LCD)的应用范围不断扩大,尤其是在高档电子、通信领域的应用已成为流行的趋势.基于缩小器件体积及降低器件成本的需要,COG(CHIP ON GLASS)、COF(CHIP ON FILM)模块工艺应运而生.通过对COG-LCD进行未封硅胶时的高温、高湿加速环境应力试验,以及对试验后失效样品的分析,找出造成部分产品使用过程可靠性下降的根本原因,并通过工艺改进提高产品的可靠性.
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《电子产品可靠性与环境试验》（CN：44-1412/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电子产品可靠性与环境试验》曾获广东省优秀科技期刊、《CAJ-CD规范》执行优秀奖、2001——2002年度信息产业部电子科技期刊“编辑质量奖”。读者主要有企业和技术人员。
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