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无失效数据的MEMS传感器可靠性分析

作者:佐磊; 孙洪凯; 何怡刚; 尹柏强; 胡小敏bayes可靠性无失效数据失效率mems传感器

摘要:为了解决有限试验次数情况下微机电系统(MEMS)传感器的无失效数据可靠性分析问题,针对寿命服从指数分布的MEMS传感器,通过研究最优置信限法和最小二乘估计这两种方法来获得适用于MEMS传感器无失效数据可靠性分析的置信度α、c(c>1为常数)。分析试验组数对于预测分析结果的影响,通过对两种方法进行不同分组试验,获得MEMS传感器的最佳分组数。针对某数字型双轴倾角MEMS传感器的实际算例表明置信度α=0. 4、c取值范围3~6,分组为12/13组时,得到最佳预测结果,证明了所提出方法的有效性。

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电子测量与仪器学报

《电子测量与仪器学报》(CN:11-2488/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

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