HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

激光式杂质探测仪的系统设计

作者:明军; 吴先良; 许先燔激光杂质探测彩色分辨尺寸分辨探测仪激光式杂质系统设计色分辨率设计参数

摘要:依据激光式杂质探测的基本原理,采用彩色分辨率、尺寸分辨率两个参数,作为反射式杂质探测系统的基本指标,由此导出系统的设计参数,并给出一个完整的设计参数实例.该方法对实际工程的实现具有重要的指导意义,由此开发的智能型杂质在线探测仪,在烟草行业得到了运用.该系统运行正常,具体指标达到了设计要求.

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

电子测量与仪器学报

《电子测量与仪器学报》(CN:11-2488/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

杂志详情