HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

NI和TI携手将传统的电源监测效率提高10倍

电源监测ni传统labview软件spectrumti虚拟仪器技术电源优化测量功能dsp

摘要:NI日前宣布与德州仪器(TI)和Spectrum Digital(SDI)共同合作开发全新的TIC55X电源优化DSP入门套件(Power Optimization DSP Starter Kit,简称DSK),该产品是业界首款集成了测试测量功能的DSP设计工具。它采用了NI虚拟仪器技术、结合了NI基于USB的测量硬件,以及基于NI LabVIEW软件的电源监测应用。为精确规划、分析、管理并优化实时功耗提供一整套电源评估及测量工具。该入门套件将传统的电源监测效率提高10倍。并且使用户无需再分开购买DSP和价格不菲的电源监测硬件。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

电子测量技术

《电子测量技术》(CN:11-2175/TN)是一本有较高学术价值的大型半月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

杂志详情