作者：马秀莹; 刘明亮; 高剑直流参数测试超大规模集成电路复杂可编程逻辑器件自动测试系统直流参数vlsi测量放大器自动化程度结构紧凑测试精度
摘要：文中基于测试器件AD5520和测量放大器AD524,设计并实现超大规模集成电路直流参数自动测试系统,该系统具有结构紧凑,编程灵活等特点.实际应用表明,该系统自动化程度高,测试精度高,可靠性好.
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
《电子测量技术》（CN：11-2175/TN）是一本有较高学术价值的大型半月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
部级期刊
人气 371610 评论 74
人气 308132 评论 62
人气 269776 评论 66
统计源期刊
人气 156513 评论 73
